環(huán)境試驗設(shè)備的相關(guān)標準簡介

環(huán)境試驗設(shè)備的有關(guān)標準簡介

一、主要國際標準　　《基本環(huán)境試驗規(guī)程》是國際電工委員會（IEC)第50技術(shù)委員會（TC 50）制定的一整套環(huán)境試驗系列標準，（即IEC 68號出版物）?！　∫驗榇罅康碾姽?、電子產(chǎn)品在國內(nèi)和國際上等通，使得用戶和生產(chǎn)者雙方都關(guān)心產(chǎn)品的貯存、運輸和使用中的性能、可靠性和**性，要求制定共同的標準，以保證產(chǎn)品能滿意的工作?！痘经h(huán)境試驗規(guī)程》就是為了滿足需要，從六十年代到八十年代陸續(xù)完成的?！　∵@套環(huán)境試驗系列標準吸收了各國標準化的經(jīng)驗，集中了各國有關(guān)專家的智慧，因此具有體系完整、結(jié)構(gòu)嚴謹、便于利用、內(nèi)容完善等優(yōu)點，并具有科學(xué)性和先進性，已在世界各國十分廣泛的采用。不僅電工、電子產(chǎn)品，其它行業(yè)產(chǎn)品也在采用。

二、美國**標準（MIL）　　其基本標準為MIL－STD－810C《空間和陸用環(huán)境試驗方法》和MIC－STD－202F《電子、電氣零件試驗方法》　　美軍標和IEC標準一樣已廣泛被國際采用?！　∥覈耸甏捎嘘P(guān)部門組織制定了GB 2421－2424《電工、電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》，GJB 150《**設(shè)備環(huán)境試驗方法》，GJB 360《電子元器件試驗方法》，分別等效于IEC 68號出版物，MIL－STD－810C和MIL－STD－202F。到九十年代，為了提高產(chǎn)品在國際市場上競爭能力，國家有關(guān)部門明確規(guī)定：民用產(chǎn)品和**產(chǎn)品的試驗方法標準應(yīng)分別等同采用IEC和MIL標準。

三、環(huán)境試驗設(shè)備產(chǎn)品技術(shù)條件　　以上介紹的是環(huán)境試驗的試驗方法標準，還有一類是環(huán)境試驗設(shè)備的產(chǎn)品標準或技術(shù)條件?！　庵漠a(chǎn)品技術(shù)條件有：　　BS 3898－1965《試驗室濕熱箱技術(shù)條件》為英國標準，并為其它國家廣泛采用?！　?/font>ASTME－145－1968《重力對流和強制通風老化箱技術(shù)條件》美國材料試驗學(xué)會標準。　　ASTMD 2436－68《電氣絕緣用強制對流實驗室烘箱標準技術(shù)條件》美國材料試驗學(xué)會標準。　　IEC 216號出版物《測定電氣絕緣材料耐熱性試驗導(dǎo)則》第四部分，老化烘箱?！　∥覈嘘P(guān)部門也先后制訂了各種環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)條件，如： GB 10586《濕熱試驗箱技術(shù)條件》GB 10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB 10592《高低溫試驗箱技術(shù)條件》等。

四、環(huán)境試驗設(shè)備檢定方法　　我國有關(guān)部門制訂了GB 5170《電工、電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》、HB 6783《**機載設(shè)備氣候環(huán)境試驗箱（室）檢定方法》，HB 7122《民用飛機機載設(shè)備氣候試驗箱（室）檢定方法》，從而使環(huán)境試驗設(shè)備檢定和認證有章可循，使設(shè)備質(zhì)量得到保證。

五、在試驗方法及技術(shù)條件中的溫度性能指標  1、在試驗方法中主要指標是容差（允許誤差），有些標準同時也對溫度變化（溫度波動度）提出要求。 　　“容差”在IEC68－2－3，2．1的注中陳述：“溫度±2℃的容差是由于考慮到測量的一概誤差，緩慢的溫度變化和工作空間的溫度波動度等”?！　≡?/font>IEC 216號出版物第四篇老化烘箱中，定義“溫度偏差”是“由于溫度波動度和溫度梯度組合而成的溫度誤差”?！　≡?/font>MIL－STD－810的4．4．1試驗條件允差中規(guī)定“試樣應(yīng)完全被空氣包圍（必要的支承點除外），試驗區(qū)測量系統(tǒng)的溫度和包圍試件各處溫度梯度(靠近試樣處測得）應(yīng)分別在試驗溫度±2℃以內(nèi)和不超過每米1℃或總的大值為2．2℃（試件不工作)”?！　≡?/font>MIL－STD－202F，2．2．1及MIL－STD－883C，4．5．8中，對環(huán)境試驗箱允許的溫度變化：　?。?/font>1） 工作區(qū)內(nèi)的溫度變化：工作區(qū)內(nèi)任一參考點和的溫度變化保持在±2℃ 以內(nèi)（即任一點的溫度波動度）?！　。?/font>2） 工作區(qū)內(nèi)的空間溫度變化：工作區(qū)內(nèi)任一點的溫度，在給定時間內(nèi)偏離基準點不超過±3℃（即為容差）　　在IEC 68號出版物及GB 2423中，性能指標規(guī)定為“容差”，對容差大小，規(guī)定為高溫試驗箱±2℃，低溫試驗箱±3℃。2、在產(chǎn)品技術(shù)條件中的溫度性能指標　?。?/font>1）國外產(chǎn)品技術(shù)條件　　ASTM，D2436規(guī)定有溫差和溫度波動度，溫差的測試方法是：布置9只熱電偶在箱內(nèi)溫度穩(wěn)定后開始測試，每5分鐘測一次，共測5次得到45個數(shù)據(jù)，計算45個數(shù)據(jù)的平均值作為箱溫，從45個數(shù)中選取兩個大值和兩個小值各自減去箱溫，然后從4個差值中選出兩個大值并求其平均值，此值就是溫差。　　IEC 216號出版物第四部分老化烘箱中，同樣規(guī)定有溫差和波動度指標，溫差的測試方法與ASTM．D2436同，而在數(shù)據(jù)處理上則是從45個數(shù)據(jù)中找出大和小溫度值，其差值就是溫差。　　BS 3898中，規(guī)定溫度指標為溫度均勻度與溫度波動度，其溫度均勻度的測試方法為：當箱內(nèi)溫度穩(wěn)定后，用布置在箱內(nèi)的熱電偶連續(xù)測試兩小時，分別計算每一測試點與中心點的溫差平均值，其中大者即為溫度均勻度，并加上正負號表示?！　≡趪夤镜漠a(chǎn)品樣本中， 溫度指標都只有兩個， 即溫度波動度（Tem. Constancy）和溫度均勻度（Tem. Unifortmty），或者是溫度波動度和溫度誤差(Tem . Variation）沒有哪個國外廠家的產(chǎn)品樣本上同時出現(xiàn)溫度波動度、溫度均勻度和溫度誤差三個指標的?！　。?/font>2）國內(nèi)環(huán)境試驗設(shè)備產(chǎn)品技術(shù)條件　　在我國的產(chǎn)品技術(shù)條件——低溫試驗箱、高低溫試驗箱、濕熱試驗箱等產(chǎn)品技 術(shù)條件中都規(guī)定有溫度波動度、溫度均勻度和溫度誤差三個指標。溫度波動度為箱內(nèi)任一點溫度的時間誤差，溫度誤差為箱內(nèi)各點溫度與標稱溫度的誤差值，即為空間誤差。各國標準對溫度波動度與溫度誤差意義上的理解和測試方法基本相同，但我國技術(shù)條件中對溫度均勻度的測試和數(shù)據(jù)處理與國外有所區(qū)別，我國規(guī)定利用30分鐘內(nèi)測得每個測試點15次數(shù)據(jù)，分別求出每次數(shù)據(jù)中高與低溫度之差，然后算出15次差值的平均值即為均勻度，顯然由于未與標稱溫度或中心點溫度進行比較，因此溫度均勻度指標沒有正負號?！　∮捎谟幸陨霞夹g(shù)條件的規(guī)定，所以國內(nèi)生產(chǎn)廠在產(chǎn)品樣本和說明書中用了三個溫度性能指標。　　現(xiàn)在國家環(huán)境試驗設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督中心，在按照GB 5170《電工、電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》對環(huán)境試驗設(shè)備認證驗收時也只測溫度誤差而不測溫度均勻度?！　∥?、國內(nèi)外環(huán)境試驗設(shè)備溫度性能指標測試的一些情況1、工作空間：IEC總則中是這樣定義的：“工作空間是可以維持規(guī)定條件在所規(guī)定的公差范圍內(nèi)的試驗箱的那部分”國外廠家如日本公司規(guī)定工作空間在距箱壁1/ 6邊長以外的區(qū)域除外，也就是說滿足技術(shù)指標的空間只有箱子空間的30％。我國產(chǎn)品標準規(guī)定距箱壁1/10邊長的區(qū)域除外，工作空間為箱子空間的51％。可見我國設(shè)備工作空間要大得多，可試驗更多的產(chǎn)品。

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